研究設備

分析装置

1.高周波プラズマ発光分光分析装置(ICP-AES)

 アルゴンプラズマ中へ溶液試料を導入し 発光する試料構成元素を、その分析波長順に逐次的にppb〜1000ppmの広い濃度レンジにおいて分析するための装置である。 装置は、誘導結合高周波プラズマ発生装置、分光部データ処理装置から構成されている。試料内に含まれた微素元素の同定から濃度の定量まで、幅広く利用されている。
 左の写真は駒場リサーチキャンパスのものであるが、千葉実験所にも同様の装置がある。

2.クヌーセンセル質量分析装置

 本装置は、物質の蒸気圧の測定を行うものである。
 通常の質量分析装置は低温域において測定誤差が大きくなるが、本装置は電子増倍管を用いることや、同時に2つの物質の蒸発速度を測定するなどの工夫を行い、高精度の測定を可能としている。

 高温質量分析装置は加熱源には5 kWモリブデン製ヒーターを使用し、室温から1200 ℃程度までの温度範囲で測定が可能である。
 超高温質量分析装置は加熱源にTa線抵抗炉を用い、室温から1600 ℃までの温度範囲で測定が可能である他、質量数200の分子までの測定が可能である。

3.酸素・窒素分析装置、炭素・硫黄分析装置、水素分析装置



 LECO社製のTC-436AR、RH402、CS-400の三台の分析装置がある。
TC-436AR 酸素については赤外線吸収方式、窒素については熱伝導度方式を用いて、試料中の濃度を測定する。感度は0.1ppmで分析精度は±2ppmである。
RH402 熱伝導度方式を用いて、水素濃度を感度0.001ppm、分析精度±0.2ppmで分析可能である。
CS-400 赤外線吸収法を用いて、炭素、ならびに硫黄濃度を感度1ppm、分析精度cv=1〜2%で分析可能である。
 酸素・窒素分析装置は、駒場キャンパス、千葉実験所ともに設置してある。

4.赤外線発光分析装置(FTIR)

 分子振動、格子振動のエネルギーによって起こる赤外吸収を利用して、赤外吸収スペクトルから分子振動の状態を知る事ができる。 固体と液体では分子全体の回転運動が自由に起こり得ないため純粋なスペクトルが観察できる。
 FT-IR分光計は適度な分解能で一秒以内に赤外スペクトルを観察でき、分解能波長領域で一定である。また全波長領域を同時に測定し積算も可能であるためS/N比の良いスペクトルが得られる。

5.走査型電子顕微鏡

 試料に電子線を照射し、放出される二次電子や反射電子を用いて試料の表面を観察する装置である。
 また、本装置はEDS(エネルギー分散型X線分析装置)によって、試料表面の元素分析が可能である。

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